Ключевые возможности и технические характеристики
Входные параметры
- Ток: от 0 до 30 А
- Напряжение: от 0 до 150 В
- Максимальная мощность: 250 Вт
Режим постоянного тока
- Нижний диапазон/Верхний диапазон: 3 А/30 А
- Нестабильность: 10 мА
- Погрешность (нижний диапазон): 0,1% ± 7,5 мА
- Погрешность (верхний диапазон): 0,1% ± 15 мА
Режим постоянного напряжения
- Нижний диапазон/Верхний диапазон: 15 В/150 В
- Нестабильность: 10 мВ
- Погрешность (нижний диапазон): 0,1% ± 10 мВ
- Погрешность (верхний диапазон): 0,1% ± 20 мВ
Режим постоянного сопротивления
- Диапазон 1 (ток более 10% от номинального значения): от 0,067 Ом до 10 Ом
- Диапазон 2 (ток более 1% от номинального значения): от 9 Ом до 100 Ом
- Диапазон 3 (ток более 0,1% от номинального значения): от 90 Ом до 1000 Ом
- Диапазон 4 (ток более 0,01% от номинального значения): от 900 Ом до 2500 Ом
Модуль Keysight N3307A представляет собой модуль электронной нагрузки постоянного тока мощностью 250 Вт (0-30 А, 0-150 В) для использования совместно с базовым блоком электронной нагрузки постоянного тока N3300A или N3301A. Модуль N3307A обеспечивает высокое быстродействие и точность при работе в режимах постоянного тока, напряжения или сопротивления. Прибор имеет встроенные функции измерения напряжения, тока и мощности, а также встроенный дигитайзер для оцифровки сигналов.
Тестирование многоканальных источников питания постоянного тока или преобразователей постоянного тока может занимать много времени, если последовательно тестировать каждый канал с использованием мультиплексора и одного мультиметра. Встроенная измерительная система электронных нагрузок N3300A позволяет проводить тестирование всех каналов одновременно. Аналогичным образом можно тестировать сразу несколько одноканальных источников питания постоянного тока.
Для управления модулем N3307A, установленным в базовый блок электронной нагрузки постоянного тока N3300A или N3301A, нужен один адрес GPIB. Электронная нагрузка постоянного тока серии N3307A обладает высоким быстродействием и точностью и идеально подходит для тестирования в условиях крупносерийного производства источников питания.
